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涂层测厚仪
SW640T短波测温型红外热像仪采用短波红外探测器,可透过玻璃窗口测温;响应时间短,最高帧率可达137Hz,适合快速移动目标场景;多种镜头规格可选,适用于各类应用;接口丰富,使用方便;提供多语言多平台SDK,便于开发;
探测器参数
像素数
640×512
像素尺寸
5μm×5μm
帧率
50Hz (可定制最高137Hz)
曝光方式
全局快门
响应波长
1.7um
测温参数
测温范围
200~800℃(分档,自动切换),或300~1600℃,或400~3000,或其他定制测温范围
测温精度
±2%
NETD
<1K (500℃)
电气接口
电源
DC12~24V
图像数据
RJ45
输入触发
默认12V上拉,下拉触发
输出管脚
内置继电器,常开(NO),常闭(NC)
RS485
支持
功耗
约5W
物理属性
尺寸
70.9(L)×62(W)×60(H),不含镜头
重量
330g(不含镜头)
环境参数
工作温度
-30~60℃
储存温度
-40~80℃
湿度
≤85%(非冷凝)
外壳防护等级
IP54
冲击
25G,IEC68-2-29
振动
2G,IEC68-2-6
电磁兼容
符合CE/FCC标准